STIL光谱共聚焦传感器（厚度粗糙度检测）。STIL, 1993年创始于法国。作为光谱共焦传感器的制造者，STIL为全球各行业（玻璃、医疗、电子、半导体、汽车、航空航天、制表业、新能源等）提供高性能的光谱共焦传感器已超过27年。2019年法国STIL正式加入马波斯集团。其遍布全球的销售和服务网络进一步深化了STIL的销售渠道，优化了STIL的客户服务体系。任何材料的物体，如金属、玻璃、陶瓷、半导体、塑料、织物等，STIL光谱共焦传感器都可轻松测量，且对被测物体表面颜色和光洁度无特殊要求，无论物体表面是漫反射或高光面，甚至镜面。

NCG非接触式薄壁工件测量系统。NCG是一种基于干涉技术的测厚仪，它将反射在被测物体边界层的光波列引入干涉，计算出被测物体的层厚。该测量仪设计用于控制硅片的厚度，也适用于测量其他材料，如玻璃、蓝宝石或任何其他对红外光透明的材料。

优点：

精度高，测量速度快，可以连接到任何机器上。
可用于工作台和机器内部的干燥或潮湿环境。
可用于检查任何工作和零件表面的厚度。NCG算法可以过滤有孔、金属屏蔽和一般来说不可测量区域的零件。

马波斯的技术与年愈臻，许多采用了马波斯公司技术的工业部门优化了生产过程，缩短了（生产）周期，还减少了浪费；

手机
平板电脑
手提电脑和笔记本
可穿戴智能手表
运动相机
室外监控摄像头
耳机，遥控器，打印机等配件
尽管在这些工业领域用于构建产品的材料不同，例如：
铝
钢
钛
陶瓷
玻璃和蓝宝石
对于每种材料，马波斯至少可以提供一种控制制造过程的解决方案。

马波斯提供的应用解决方案特别广泛，主要应用于：
带有测头的机器零件的定位
带有扫描测头的机器零件的变形检测
带有接触式测头的刀具的预调
接触式和非接触式（激光，CCD相机）设备的刀具磨损和寿命
使用各种类型的传感器进行机器和过程监测
接触式和非接触式机外零件的尺寸测量
在组装、测试和包装（FATP）阶段对单个组件（例如外壳和完全组装的产品）进行泄漏测试